GBW13971 二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质
英文名称：CRMs for Thickness of SiO2 Nanosized Thin Layers
应用领域：物理学与物理化学/光学特性
保存条件：贮存在阴凉干燥的室温环境条件下
使用注意事项：运输过程中必须保持包装的完整，使用过程中必须保持样品表面清洁
特征形态：固态
基体：
主要分析方法：掠入射X射线反射测量和椭偏测量#
定值单位：中国计量科学研究院#
规格：每盒1片
量值信息
标准值 不确定度 单位 CAS 备注
二氧化硅纳米薄膜厚度 50.96 0.85 nm
